Detección de componentes electrónicos falsificados por inspección, análisis de marcado y ensayo funcional

Fundamento

La verificación avanza por niveles de esfuerzo. La inspección visual externa con lupa y microscopio compara la pieza con muestras auténticas y con la documentación del fabricante: se examinan el marcado, su tipografía, su alineación y su método de aplicación, la textura de la superficie del encapsulado, que en las piezas remarcadas suele estar lijada y repintada, los indicadores de terminal uno, los restos de soldadura previa en los terminales, que delatan una pieza recuperada, y el estado de la coplanaridad. La prueba de resistencia del marcado con solventes revela el repintado, porque el marcado láser original no se borra y la tinta agregada sí. El análisis por rayos X muestra el interior sin abrir: la presencia y el tamaño del chip, el patrón de los hilos de conexión y la trama del portachip, que se comparan con los de una pieza auténtica y que en las falsificaciones no coinciden o directamente no hay chip. La apertura destructiva del encapsulado por ataque químico o por vía mecánica expone el chip y permite leer la identificación del fabricante grabada en el silicio, que es la prueba más concluyente. El análisis elemental de la superficie y de los terminales identifica materiales y recubrimientos que no corresponden. Y el ensayo eléctrico funcional y paramétrico verifica que la pieza cumpla la hoja de datos en todo su rango, incluidas las condiciones de temperatura, que es donde las falsificaciones fallan aunque funcionen a temperatura ambiente.

Matriz (en qué muestra)

Componentes electrónicos de reposición y de producción; circuitos integrados; semiconductores de potencia; componentes para aplicaciones críticas; lotes de origen dudoso

Equipamiento necesario¿Dónde lo compro?

Microscopio estereoscópico y metalográfico con cámara; equipo de rayos X de inspección electrónica; equipo de apertura de encapsulados por ataque químico o láser; microscopio electrónico de barrido con microanálisis; equipo de ensayo funcional y paramétrico con cámara de temperatura; equipo de medición de coplanaridad; balanza de precisión.

Reactivos¿Dónde lo compro?

Solventes para la prueba de resistencia del marcado; ácidos para la apertura de encapsulados; reactivos de limpieza; muestras auténticas de referencia.

Material de laboratorio¿Dónde lo compro?

Portamuestras; bandejas antiestáticas; guantes; documentación y hojas de datos del fabricante.

Consumibles¿Dónde lo compro?

Componentes ensayados de manera destructiva; ácidos y solventes.

Unidad

1 · auténtico, sospechoso o falsificado · número de indicadores de falsificación hallados · resultado del ensayo funcional y paramétrico

Rango de referencia

Los planes de muestreo definen cuántas piezas del lote se inspeccionan de manera no destructiva y cuántas se someten a ensayos destructivos, en general unas pocas por lote

Norma que lo exige

Los requisitos de las cadenas de suministro de la industria aeronáutica, médica y de defensa, que exigen la verificación de componentes de fuentes no autorizadas; Disposición ANMAT 2318/2002 para los productos médicos y sus componentes; las normas de gestión de la calidad de los fabricantes de equipamiento; las políticas de compras de las empresas de infraestructura críticanorma argentina

Norma que describe la técnica

SAE AS6081 sobre prácticas para prevenir la compra de piezas electrónicas falsificadas de distribuidores no autorizados, con la secuencia de inspección y ensayo; SAE AS5553 sobre prevención en la cadena de suministro; IDEA-STD-1010 sobre criterios de aceptación visual de componentes; las guías de los fabricantes y de las asociaciones de la industria sobre detección de falsificacionesnorma argentina

Edición y vigencia de la norma

SAE AS6081, revisión vigente; IDEA-STD-1010-B

Volumen de muestra

La inspección y los rayos X no son destructivos y se aplican a una muestra amplia; la apertura de encapsulados y algunos ensayos consumen las piezas

Conservación y transporte

La mejor defensa es no llegar a esta instancia: comprar a distribuidores autorizados con trazabilidad hasta el fabricante evita el problema, y la verificación se justifica cuando eso no fue posible. Las piezas se manipulan con precauciones antiestáticas, porque una descarga durante la inspección produce una falla que después se atribuye a la falsificación. Se necesitan muestras auténticas de referencia del mismo fabricante y de la misma serie para comparar, sin las cuales muchas diferencias no se pueden interpretar. Los lotes rechazados se identifican y no se devuelven al mercado, para no reintroducir el problema.

Límite de detección típico

No aplica

Incertidumbre típica

El resultado es un juicio basado en la acumulación de indicadores; un solo indicador rara vez es concluyente salvo la lectura del chip

Área

Electrotecnia; Materiales/industrial; Criminalística

Fecha de última actualización: 10/9/2026