Difracción de rayos X (distancia interplanar por ley de Bragg; cristalito por Scherrer)

Fundamento

Los rayos X difractados interfieren constructivamente cuando nλ = 2d·senθ, lo que da la distancia interplanar d; el ensanchamiento de los picos se relaciona con el tamaño de cristalito.

Matriz (en qué muestra)

Sólidos cristalinos, catalizadores, minerales

Equipamiento necesario¿Dónde lo compro?

Difractómetro de rayos X (goniómetro, tubo de Cu, detector); portamuestras; patrón de alineación (p. ej. Si o LaB6).

Reactivos¿Dónde lo compro?

Patrón interno de referencia si se requiere.

Material de laboratorio¿Dónde lo compro?

Mortero de ágata; portamuestras.

Unidad

m · nm · Å

Rango de referencia

d de 0,1 a 3 nm; cristalitos de ~2 a 100 nm

Norma que describe la técnica

Por confirmar

Edición y vigencia de la norma

La ficha todavía no tiene identificada la norma aplicable: depende del material, del producto o de la jurisdicción. Antes de encargar el ensayo conviene acordar con el laboratorio contra qué norma se va a informar, porque de eso dependen los límites de aceptación.

Volumen de muestra

0,5 a 2 g de polvo molido a menos de 40 µm, o una pieza plana pulida

Conservación y transporte

Frasco seco y cerrado. El polvo tiene que estar bien molido y sin orientación preferencial: si los cristales se alinean al cargar el portamuestras, las intensidades salen mal.

Límite de detección típico

0,001 Å en la distancia interplanar; detecta fases desde el 1 al 5% en mezclas

Incertidumbre típica

±0,0005 a 0,002 Å en el parámetro de red, con patrón interno

Área

Materiales/industrial; Química analítica; Geología y minería

Fecha de última actualización: 3/9/2026

Ficha N.º 223 · ¿Ves algo para corregir? Escribinos