Perfilometría óptica de área (interferometría de luz blanca / confocal)

Fundamento

Se reconstruye la altura de cada punto del área por interferencia o por enfoque, generando un mapa topográfico 3D.

Matriz (en qué muestra)

Superficies funcionales

Equipamiento necesario¿Dónde lo compro?

Perfilómetro óptico de área (WLI o confocal); patrón de altura de escalón.

Reactivos¿Dónde lo compro?

Ninguno.

Unidad

m · nm · µm

Rango de referencia

Alturas de nm a mm; área de 0,1 a 10 mm

Norma que describe la técnica

ISO 25178 (parte 2 y partes de calibración)norma internacional

Edición y vigencia de la norma

Norma ISO. Confirmar la edición vigente en el catálogo en línea de ISO, que indica si la norma está publicada, en revisión o retirada. La designación completa incluye el año después de los dos puntos.

Volumen de muestra

No corresponde: no se toma muestra

Conservación y transporte

Se mide la pieza directamente: no se envía muestra al laboratorio. Si la pieza viaja, protegerla de golpes y de la corrosión, y dejarla estabilizar a 20 °C antes de medir. Esa temperatura es la de referencia de toda la metrología dimensional.

Límite de detección típico

0,1 nm en altura

Incertidumbre típica

±1 a 5% en los parámetros de área; mide sin contacto, así que no raya

Área

Metrología y calibración; Materiales/industrial

Fecha de última actualización: 3/9/2026

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