Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Fundamento

Un haz de electrones barre la muestra y se detectan electrones secundarios o retrodispersados; la escala se establece por la calibración de la magnificación.

Matriz (en qué muestra)

Nanopartículas, superficies, cortes

Equipamiento necesario¿Dónde lo compro?

SEM; metalizador (sputter coater); patrón de calibración de magnificación.

Proveedores de Metrología y calibración.

Reactivos¿Dónde lo compro?

Metalizante (Au/Pd o C).

Material de laboratorio¿Dónde lo compro?

Portamuestras; cinta de carbono.

Consumibles¿Dónde lo compro?

Oro/paladio o carbono para metalizar; nitrógeno líquido si aplica.

Unidad

m · nm · µm

Rango de referencia

1 nm – 1 mm según aumento

Norma que lo exige

No hay todavía una norma argentina específica para nanomateriales: la obligación surge de la norma del producto que los contiene. La referencia metodológica es la serie ISO/TC 229 de nanotecnologíasnorma internacional

Norma que describe la técnica

ASTM E766 (calibración de magnificación, verificar edición)norma internacional

Edición y vigencia de la norma

Norma ASTM. La designación completa lleva el año de la última revisión como sufijo, y entre paréntesis el año de reaprobación si la hubo. Confirmar en el catálogo de ASTM, que marca las normas retiradas.

Volumen de muestra

Una muestra de pocos milímetros, montada en portamuestras y metalizada si no es conductora

Conservación y transporte

Caja de portamuestras limpia, en desecador o al vacío. La muestra tiene que estar seca y sin volátiles: el vacío de la cámara los libera y ensucia la columna. Las biológicas van fijadas y deshidratadas.

Límite de detección típico

De 1 a 10 nm de resolución según el equipo y el modo

Incertidumbre típica

±2 a 5% en las dimensiones medidas, con la escala calibrada

Área

Materiales/industrial; Nanotecnología

Fecha de última actualización: 3/9/2026

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