Termometría por sensor integrado de silicio (p. ej. LM35, DS18B20, PT100 digital)

Fundamento

La tensión base-emisor de una juntura semiconductora varía linealmente con la temperatura absoluta. El circuito integrado amplifica y linealiza esa señal, entregando una salida analógica proporcional o un valor digital.

Matriz (en qué muestra)

Placas electrónicas; equipos; ambiente

Equipamiento necesario¿Dónde lo compro?

Sensor integrado; microcontrolador o adquisidor.

Reactivos¿Dónde lo compro?

Ninguno.

Material de laboratorio¿Dónde lo compro?

No aplica.

Consumibles¿Dónde lo compro?

Cableado; conectores.

Unidad

K · °C · °F

Rango de referencia

−55 a 150 °C · Exactitud típica ±0,5 °C

Edición y vigencia de la norma

Esta técnica no responde a una norma única: se aplica con procedimientos internos validados por cada laboratorio, o forma parte de un método más amplio que sí tiene norma. Si el resultado va a usarse con fines regulatorios o legales, hay que acordar de antemano el procedimiento y su validación.

Volumen de muestra

No corresponde: no se toma muestra

Conservación y transporte

Se mide con el sensor puesto en el proceso: no se envía muestra al laboratorio. Lo que sí viaja es el sensor cuando va a calibración, protegido de golpes y con su certificado anterior.

Límite de detección típico

0,1 °C

Incertidumbre típica

±0,5 a 1 °C típico; va integrado en la electrónica

Área

Instrumentación y control

Fecha de última actualización: 3/9/2026