Privado · Don Bosco (Quilmes), Buenos Aires
Fix Sudamericana S.A.
Los datos de esta ficha fueron recopilados del sitio web del laboratorio, del de la institución a la que pertenece o de registros públicos. Todavía no fueron confirmados por el laboratorio, así que pueden estar desactualizados o incompletos. Si sos de este laboratorio, verificá tu ficha o escribinos a contacto@comolomido.com.
- info@fixsudamericana.com
- Teléfono
- (011) 4251-8736 / 9692
- Sitio web
- https://fixsudamericana.com/
- Dirección
- Lavalle 1021 (B1877ADC)
- Acreditación de calidad
- Acreditado por el OAA bajo ISO/IEC 17025 como laboratorio de ensayo, registro LE-145 (desde 29/12/2009). La acreditación cubre solo los ensayos del alcance publicado por el OAA, no toda la actividad del laboratorio: conviene verificar que incluya el ensayo que se necesita.
- Servicios que ofrece
- Ensayos industriales (según sitio)
- De dónde salieron estos datos
- https://fixsudamericana.com/contacto/
- De dónde salió el contacto
- Registro público del OAA
Fecha de última actualización: 3/9/2026
Técnicas de sus áreas de trabajo
Este laboratorio trabaja en Materiales/industrial. Estas son las técnicas del catálogo que corresponden a esas áreas; conviene confirmar con ellos cuáles realizan.
- Microscopía óptica
- Volumen de sólidos por desplazamiento de fluido (picnometría y principio de Arquímedes)
- Espesor de recubrimiento por método magnético
- Espesor de recubrimiento por corrientes de Foucault
- Peine de espesor de película húmeda
- Elipsometría
- Perfilometría de contacto (medición de escalón)
- Interferometría de baja coherencia (OCT / luz blanca)
- LVDT (transformador diferencial variable lineal)
- Extensometría por clip-on o galgas extensiométricas
- Dilatometría (dilatómetro de varilla empujadora)
- Microscopía óptica con micrómetro ocular
- Análisis digital de imagen con escala calibrada (p. ej. ImageJ)
- Microscopía electrónica de barrido (SEM)
- Microscopía de fuerza atómica (AFM)
- Perfilometría óptica de área (interferometría de luz blanca / confocal)
- Determinación de tamaño de grano metalográfico
- Difracción de rayos X (distancia interplanar por ley de Bragg; cristalito por Scherrer)
- Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS)
- Zona de detección eléctrica (principio Coulter)
- Porosimetría por intrusión de mercurio
- Adsorción física de gas (BET / BJH)
- Determinación de longitud de fibra (HVI o método de array)
- Conos pirométricos (conos Seger / equivalente pirométrico de cono, PCE)
- Pirómetro óptico de desaparición de filamento
- Calorimetría diferencial de barrido (DSC)
- Termogravimetría (TGA)
- Análisis termomecánico (TMA)
- Temperatura de deflexión bajo carga en flexión (HDT)
- Temperatura de reblandecimiento Vicat (VST)
- Punto de inflamación en vaso cerrado Tag / método de equilibrio a pequeña escala
- Unidad fuente-medida (SMU) — curva I-V
- Copa de Faraday con electrómetro
- Medición de corriente de sonda en microscopía electrónica
- Curvas de polarización potenciodinámica y resistencia de polarización
- Viscosimetría capilar (Ostwald, Cannon-Fenske, Ubbelohde)
- Copa de flujo (copa Ford / copa DIN / copa ISO)
- Determinación del tiempo de fraguado por aguja de Vicat
- Determinación de tiempos de secado de recubrimientos
- Determinación del tiempo de gelificación y del pico exotérmico