Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Fundamento

Una punta montada en un cantilever recorre la superficie; la deflexión medida por un láser mantiene constante la fuerza y genera un mapa topográfico.

Matriz (en qué muestra)

Superficies, films, biomoléculas

Equipamiento necesario¿Dónde lo compro?

AFM con mesa antivibratoria; patrones de altura y de paso lateral.

Reactivos¿Dónde lo compro?

Ninguno.

Material de laboratorio¿Dónde lo compro?

Portamuestras.

Consumibles¿Dónde lo compro?

Cantilevers/puntas (consumible).

Unidad

m · nm

Rango de referencia

0,1 nm – 10 µm en Z

Norma que lo exige

No hay todavía una norma argentina específica para nanomateriales: la obligación surge de la norma del producto que los contiene. La referencia metodológica es la serie ISO/TC 229 de nanotecnologíasnorma internacional

Norma que describe la técnica

ISO 11952 (calibración de SPM, verificar)norma internacional

Edición y vigencia de la norma

Norma ISO. Confirmar la edición vigente en el catálogo en línea de ISO, que indica si la norma está publicada, en revisión o retirada. La designación completa incluye el año después de los dos puntos.

Volumen de muestra

Una muestra plana de pocos milímetros, adherida al portamuestras

Conservación y transporte

Caja limpia y cerrada, en desecador. La superficie no se limpia con paño: se sopla con gas inerte. Una partícula de polvo daña la punta, que es el elemento más caro y delicado.

Límite de detección típico

0,01 nm en altura; 1 nm en el plano

Incertidumbre típica

±2 a 5% en altura; en el plano, la deriva del escáner piezoeléctrico es la limitación

Área

Nanotecnología; Materiales/industrial

Fecha de última actualización: 3/9/2026